導讀 各種光源的光子數(shù)分布已被廣泛研究。然而，人們對強光作用下發(fā)射的電子的統(tǒng)計分布知之甚少。馬克斯·普朗克光科學研究所 (MPL) 和埃爾蘭...
各種光源的光子數(shù)分布已被廣泛研究。然而，人們對強光作用下發(fā)射的電子的統(tǒng)計分布知之甚少。
馬克斯·普朗克光科學研究所 (MPL) 和埃爾蘭根-紐倫堡弗里德里希·亞歷山大大學 (FAU) 的研究人員現(xiàn)已發(fā)現(xiàn)，當納米尺寸的金屬針尖被照亮時，所獲得的電子數(shù)分布中存在極端且極不尋常的統(tǒng)計事件具有明亮量子光的超短脈沖。
最近發(fā)表在《自然物理學》雜志上的研究結(jié)果證明，電子數(shù)量受到光統(tǒng)計的影響，有助于更深入地了解電子發(fā)射過程。這些發(fā)現(xiàn)將有助于進一步改進電子顯微鏡。
在一個合作項目中，MPL 的 Maria Chekhova 教授和 FAU 的 Peter Hommelhoff 教授領導的團隊正在研究極強的量子光如何與物質(zhì)相互作用。研究人員正在用經(jīng)典光和量子光脈沖照亮納米尺寸的金屬針尖。他們檢測金屬釋放的電子并研究它們的統(tǒng)計特性。
經(jīng)典光觸發(fā)的電子遵循泊松分布，這意味著每個電子的發(fā)射獨立于其他電子。在經(jīng)典光的作用下發(fā)射的電子數(shù)量在不同的脈沖中僅有微小的變化。通過傳遞到量子光源，即所謂的明亮壓縮真空，它表現(xiàn)出強烈的光子數(shù)波動，研究人員能夠證明光子的統(tǒng)計數(shù)據(jù)可以轉(zhuǎn)移到電子。
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