來(lái)自巴塞羅那大學(xué)和 Sensofar Tech 公司的專家團(tuán)隊(duì)設(shè)計(jì)了一種創(chuàng)新技術(shù)，可以快速、準(zhǔn)確、非侵入性地獲取研究樣本的三維圖像。該工作已發(fā)表在《自然通訊》上。
新系統(tǒng)能夠表征物體的三維形貌，其速度和空間分辨率超過(guò)了當(dāng)前識(shí)別和識(shí)別三維物體的技術(shù)系統(tǒng)的性能。
該系統(tǒng)是光學(xué)輪廓測(cè)量領(lǐng)域的一項(xiàng)新發(fā)展，該技術(shù)通常應(yīng)用于各個(gè)業(yè)務(wù)領(lǐng)域的質(zhì)量控制和零件檢測(cè)，從 3D 打印組件到冠狀動(dòng)脈假體(支架)或表面缺陷或粗糙度的識(shí)別。
更準(zhǔn)確、更快速地表征 3D 樣品
光學(xué)輪廓測(cè)量是一門利用光測(cè)量物體三維輪廓的學(xué)科。 “在工業(yè)過(guò)程中的質(zhì)量控制或科學(xué)規(guī)模上的微米和納米結(jié)構(gòu)測(cè)量等領(lǐng)域，這是一種至關(guān)重要的方法。通常，微米物體的輪廓是使用顯微鏡測(cè)量的，顯微鏡獲得了一系列數(shù)百?gòu)埼矬w不同高度和平面的圖像，”布法羅大學(xué)應(yīng)用物理系教授、納米科學(xué)與納米技術(shù)研究所 (IN2UB) 成員 Martí Duocastella 說(shuō)道。
“這是一個(gè)涉及逐個(gè)平面掃描樣本的過(guò)程，本質(zhì)上是一個(gè)緩慢的過(guò)程。在這項(xiàng)新研究中，我們提出了一項(xiàng)基于大幅縮短圖像采集采集時(shí)間的創(chuàng)新，”他補(bǔ)充道。
新系統(tǒng)能夠在微米尺度上對(duì)相對(duì)較大的樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)操作(每秒最多 60 個(gè)形貌)
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